SEM+EDS 檢測是一種常用的材料分析技術。其中,SEM(掃描電子顯微鏡)可以提供樣品的高分辨率表面形貌圖像,而 EDS(能量色散 X 射線光譜儀)則可以對樣品進行元素分析。
通過 SEM+EDS 檢測,我們可以獲得有關樣品的形態、結構、成分等信息,這對于材料研究、質量控制、故障分析等領域非常有幫助。例如,在金屬材料分析中,SEM+EDS 可以檢測出材料中的晶粒大小、相分布、雜質元素等,幫助我們評估材料的質量和性能。
SEM+EDS 的使用場景非常廣泛 它在許多領域都能大顯身手,比如:
材料科學:分析材料的微觀結構、成分和形貌,了解材料的性能和特性。
半導體產業:檢測半導體器件的結構和缺陷,以及元素分布情況。
地質學:研究巖石、礦物的特征和成分,幫助地質學家了解地質結構和礦床分布。
生物學:觀察細胞、組織的形態和結構,分析生物樣品中的元素組成。
質量控制:在工業生產中,用于檢測產品的缺陷、雜質以及成分是否符合標準。
納卡檢測是四川成都的第三方檢測機構,掃描電鏡的測試服務是目前開展的服務之一,廣泛的運用于異物分析、材質分析、失效分析等測試服務。